臺(tái)式離線分光干涉式測(cè)厚儀TOF-S

產(chǎn)品型號(hào)：

所屬分類：超聲波測(cè)厚儀

產(chǎn)品時(shí)間：2024-09-10

簡(jiǎn)要描述：日本YAMABUN山文電氣臺(tái)式離線分光干涉式測(cè)厚儀TOF-S
實(shí)現(xiàn)高測(cè)量重復(fù)性（± 0.01 μm 或更小，取決于對(duì)象和測(cè)量條件）
不易受溫度變化的影響
可以生產(chǎn)用于研究和檢查的離線式和在制造過(guò)程中使用的在線式。
反射型允許從薄膜的一側(cè)進(jìn)行測(cè)量
僅可測(cè)量透明涂膜層（取決于測(cè)量條件）

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詳細(xì)說(shuō)明：

日本YAMABUN山文電氣臺(tái)式離線分光干涉式測(cè)厚儀TOF-S

產(chǎn)品特點(diǎn)

實(shí)現(xiàn)高測(cè)量重復(fù)性（± 0.01 μm 或更小，取決于對(duì)象和測(cè)量條件）
不易受溫度變化的影響
可以生產(chǎn)用于研究和檢查的離線式和在制造過(guò)程中使用的在線式。
反射型允許從薄膜的一側(cè)進(jìn)行測(cè)量
僅可測(cè)量透明涂膜層（取決于測(cè)量條件）
模型飛行時(shí)間
測(cè)量方法非接觸式/光譜干涉式
測(cè)量對(duì)象電子和光學(xué)用透明平滑膜、多層膜
測(cè)量原理光譜干擾型
日本YAMABUN山文電氣臺(tái)式離線分光干涉式測(cè)厚儀TOF-S

模型	飛行時(shí)間
測(cè)量方法	非接觸式/光譜干涉式
測(cè)量對(duì)象	電子和光學(xué)用透明平滑膜、多層膜
測(cè)量原理	光譜干擾型

產(chǎn)品規(guī)格

測(cè)量厚度	1～50μm（薄材料）、10～150μm（厚材料）
測(cè)量長(zhǎng)度	50-5000 毫米
測(cè)量間距	1 毫米 ~
最小顯示值	0.001微米
電源電壓	AC100 V 50/60 Hz
工作溫度限制	5～45℃（測(cè)量時(shí)溫度變化1℃以內(nèi)）
濕度	35-80%（無(wú)冷凝）
測(cè)量區(qū)域	φ0.6 毫米
測(cè)量間隙	約 30 毫米

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臺(tái)式離線分光干涉式測(cè)厚儀TOF-S

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